• 既存の安価な装置で生成したMHz帯域の高分解能任意波形を、変調光搬送波の分散補償により時間軸で圧縮し、高分解能を維持する。（ex.6bit以上、シミュレーションでは12bitまで可能）数十GHz帯域信号が得られた。
• 機能面ではプログラマブルでrefresh rateが速い

• 水銀を用いないため環境にやさしい
  
• ハロゲンランプのような高価な希ガスやハロゲンを用いず、安価で構造がシンプル
  
• 殺菌／浄化／半導体アニール／樹脂硬化等に利用可能
  

• 半導体バンドベンディングを精密に測定可能とするケルビンプローブフォース顕微鏡
• マイクロ秒スケールで生じる電荷移動の影響をうけず、精密な表面電位測定が可能。
  
• 時間分解能の向上により、1サンプルあたりの測定速度が向上。
  
• 従来測定が不正確であった、半導体素子の動作周波数帯におけるバンドベンディングを精密に測定できる。実証実験済。
  

• 非線形スペクトル変化を用いて、シリコン導波路デバイスの構造モデリングができる。
  
• プローブ光パルスのスペクトルデータとシミュレーションとの一致度から構造推定を行う。
  
• 長尺方向の微小空間ごとに分割して解析することで、分割した区画ごとに推定が可能。
  

メーカから出荷されている光ファイバは、長尺方向の非線形定数は一定とされているが、実際は変化している。またフォトニック結晶ファイバ等の非線形定数の正確な計測は難しい。

本技術は、あらかじめ精度高くプロファイリングした光パルスをプローブ光として、非線形定数が未知な光ファイバ等に通し、分光器で取得したスペクトルを解析することで、当該光ファイバ等の非線形定数を計測できる。

光ファイバ等の製造メーカが、出荷前の品質保証に用いることができる。