電気的に計測困難なBeyond5Gの高周波信号の波形を、波長離散化サンプリング光の波形から、分光器で光学的に計測
Advantages
- Beyond5Gに用いられるSub-THz～THz級の高周波電気信号の波形を直接計測
- 波長が離散的（波長シフトより大きい波長間隔）な時変スペクトルサンプリング光を用いることで、計測対象信号により強度変調されたサンプリング光の波長軸が時間軸を正確に表示
- 高価な広帯域オシロスコープを用いることなく、安価な分光器で超高速な波形を計測できる
Background and Technology
2030年頃に普及が想定されるBeyond 5Gでは100GHz 以上の周波数帯域の活用が見込まれるが、高周波電気信号の時間軸強度波形の計測は、高価な広帯域オシロスコープを用いても電気的に限界がある。
波長が時間軸で線形に変化する時変スペクトルサンプリング光を、計測対象の高周波電気信号で強度変調することにより、当該サンプリング光の波長軸強度波形の出力を用いて計測対象の時間軸強度波形が表示できる。しかし強度変調時には変調分の波長シフトが発生するため（100GHz→波長シフト±0.8nm）波形に波長シフト成分が複雑に混在してしまう。
そこで本発明では、波長が離散的（波長シフトより大きい波長間隔）な時変スペクトルをサンプリング光に用いている。これにより当該サンプリング光の波長軸強度波形が、時間軸強度波形を正確に表示できた。
Expectations
共同研究、または出願特許の実施許諾
Patent
特許出願中
Researcher
小西毅（大阪大学工学研究科 准教授）
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